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關(guān)于制造中使用的PCB材料和層壓板

PCB材料的選擇是PCB設計過程中的第一步。為您的設計選擇合適的材料非常重要,因為它會影響電路板的整體性能。

在選擇開始之前,有很多因素需要考慮。確保材料財產(chǎn)符合您的特定電路板要求和最終應用。

我們在制造多氯聯(lián)苯時面臨的主要問題之一是,設計者往往過于依賴材料數(shù)據(jù)表。數(shù)據(jù)表為設計師提供了材料電氣財產(chǎn)的全面描述。然而,當考慮各種現(xiàn)實世界的制造問題時,數(shù)據(jù)表是不夠的,而現(xiàn)實世界的生產(chǎn)問題很重要,因為它們會影響產(chǎn)量和成本。

ITES深圳國際工業(yè)制造技術(shù)及設備展覽會暨(圖1)


在這篇博客文章中,我們將重點關(guān)注以下幾點:

印刷電路板材料:

PCB材料:覆銅層壓板

使用以下3項制造印刷電路板:

預浸料:B級材料,具有粘性,可以粘合不同的層壓板或箔。

銅箔:PCB上的導電跡線。

覆銅層壓板(芯材):通過預浸料和銅箔進行層壓和固化。

PCB材料:箔、芯和預浸料

如何選擇PCB層壓板?

PCB層壓板由介電材料制成。在選擇PCB層壓板時,我們需要考慮所用電介質(zhì)材料的一些關(guān)鍵特性。這些屬性包括:

熱性能電氣特性

玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)介電常數(shù)(Dk)

分解溫度(Td)損失正切或損失因子(Tanδ或Df)

導熱系數(shù)(k)

熱膨脹系數(shù)(CTE)

玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg):隨著聚合物鏈變得更容易移動,PCB基板從玻璃化、剛性狀態(tài)變?yōu)檐浕?、可變形狀態(tài)的溫度。Tg以攝氏度(oC)表示。

玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)

370人力資源

180攝氏度

羅杰斯4350B 280°C

分解溫度(Td):材料發(fā)生化學分解的溫度。國際單位制單位:攝氏度。

分解溫度(Td)

370人力資源

340攝氏度

羅杰斯4350B 390°C

導熱系數(shù)(k):材料的導熱性能;低導熱率意味著低傳熱,而高導電率意味著高傳熱。國際單位制:瓦特/米-開爾文。

導熱系數(shù)(k)

370人力資源

0.4瓦/米

羅杰斯4350B 0.69瓦/米

熱膨脹系數(shù)(CTE):PCB材料在加熱時的膨脹率。CTE以每加熱攝氏度百萬分之一(ppm)表示。國際單位制:PPM/°C。

當材料的溫度上升到Tg以上時,CTE也會上升。

基板的CTE通常比銅的CTE高得多,當PCB被加熱時,這會導致互連問題。

X軸和Y軸的CTE通常低至每攝氏度約10至20ppm。這通常是由于編織玻璃在X和Y方向上限制了材料。即使材料的溫度上升到Tg以上,CTE也不會有太大變化。因此,材質(zhì)必須在Z方向上展開。

沿Z軸的CTE應盡可能低;目標是低于每攝氏度70 ppm,這將隨著材料超過Tg而增加。

材料的膨脹是通過熱膨脹系數(shù)(CTE)來測量的。此圖顯示了Z方向上的CTE。要了解更多關(guān)于PCB材料熱考慮因素的信息,請閱讀我們的文章PCB組件中的熱分析是什么

熱膨脹系數(shù)(CTE)

370人力資源

X 13 ppm/°C

Y 14 ppm/°C

Z 45 ppm/°C

羅杰斯4350B X 10 ppm/°C

Y 12 ppm/°C

Z 32 ppm/°C

介電常數(shù)(Dk)或相對磁導率(Er):材料的介電常數(shù)與自由空間(即真空)的介電系數(shù)之比。它也被稱為相對滲透率。

數(shù)據(jù)表適用于材料中特定的(通常為50%)樹脂含量百分比。芯材或預浸料中樹脂的實際百分比因成分而異,因此Dk會有所不同。銅的百分比和擠壓預浸料坯的厚度將最終決定介質(zhì)的高度。

大多數(shù)使用的PCB材料的Er在2.5和4.5之間的范圍內(nèi)。在某些微波應用中,也使用具有較高Er值的材料。它通常隨著頻率的增加而減小。

介電常數(shù)(Dk)或相對磁導率(Er)

370人力資源

樹脂含量為50%時為3.92

羅杰斯4350B 3.48

損耗角正切(tanδ)或損耗因數(shù)(Df):損耗角正切或損耗因數(shù)是電介質(zhì)中電阻電流和無功電流之間的相位角正切。介電損耗隨著Df值的增加而增加。低的Df值導致“快速”襯底,而大的值導致“慢速”襯底。Df隨頻率略有增加;對于Df值非常低的高頻材料,其隨頻率的變化非常小。數(shù)值范圍為0.001至0.030。

10 GHz損耗正切370人力資源0.0250 Rogers 4350B 0.0037

信號損耗和工作頻率

信號損耗包括介電損耗和銅損耗。

介電損耗是總信號損耗的一部分:介電材料由極化分子組成。這些分子在信號軌跡上的時變信號產(chǎn)生的電場中振動。這加熱了介電材料,并導致介電損耗作為信號損耗的一部分。信號損耗隨著頻率的增加而增加。這種損失可以最小化


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